ساخت و بررسی خواص فیزیکی و مقاومت الکتریکی نانوسیم های اکسید روی

در این مقاله، نانوسیم های اکسید روی درون قالب نانوحفره ای آلومینای آندایز شده به روش آندایز دو مرحله ای سنتز شدند. ویژگی های فیزیکی نانوسیم های اکسید روی با استفاده از تصاویر میکروسکوپ الکترونی روبشی، طیف پراکندگی پرتو ایکس و طیف سنجی پراش انرژی پرتو ایکس و همچنین تغییرات مقاومت الکتریکی با دما توسط سامانه طراحی شده، مورد بررسی قرار گرفت. نتایج نشان می دهد که نانوسیم های اکسید روی دارای قطر 66 نانومتر و طول یک تا شش میکرومتر است و طبق طیف سنجی های انجام شده، نانوسیم های اکسید روی دارای ساختار شش گوشی ورتزایت با خلوص بالا هستند. همچنین مقاومت الکتریکی نانوسیم ها با دما تغییر می کند، به طوری که با افزایش دما، جریان عبوری از نانوسیم های اکسید روی افزایش یافته، در حالی که مقاومت الکتریکی کاهش می یابد.